考試科目代碼： 考試科目名稱: 測試技術(shù)
考試內(nèi)容范圍:
一、X射線分析理論基礎(chǔ)
1.要求考生熟練掌握X射線物理學(xué)基礎(chǔ)（X射線本質(zhì)、X射線譜、X射線與物質(zhì)相互作用）.
2.要求考生理解X射線運動學(xué)衍射理論，能夠運用Ewald圖解進行衍射分析，會進行衍射強度的計算，熟悉倒易點陣
二、X射線衍射方法及衍射分析
1．要求考生熟練掌握兩種X射線衍射方法（粉末照相、多晶衍射儀法）.
2．要求考生了解晶體取向的測定方法及分析步驟.
3．要求考生能夠進行點陣常數(shù)的測定.
4．要求考生熟練掌握多晶體物相分析并進行相應(yīng)的定量計算.
5．要求考生熟練掌握宏觀應(yīng)力的測定.
三、TEM分析
1．要求考生掌握電子與物質(zhì)相互作用理論.
2．要求考生熟練掌握TEM結(jié)構(gòu)、原理、樣品制備、金屬薄膜的衍射分析（能夠標定單晶體的衍射斑點）
四、SEM分析
1.要求考生了解掃描電鏡的基本結(jié)構(gòu)和工作原理
2.要求考生熟練掌握掃描電鏡在材料分析中的應(yīng)用（表界面、斷口分析）.
3.要求考生熟練掌握波譜儀和能譜儀以及電子探針分析方法.
五、其它材料分析測試技術(shù)
1.要求考生了解XPS分析、俄歇電子能譜分析、原子探針顯微分析.
2.要求考生了解核磁共振、電子自旋共振技術(shù)在材料分析中的應(yīng)用.
3.要求考生了解熱分析技術(shù)
考試總分：100分 考試時間：2小時 考試方式：筆試
考試題型： 計算題（10分）
證明題（10分）
簡答題（20分）
綜合題（60分）
更多學(xué)歷考試信息請查看學(xué)歷考試網(wǎng)