2.2瑞雷面波法
瑞雷面波是沿地面表層(一定深度)傳播的表面振動(dòng)波，瑞雷面波具有頻散特性，即不同頻率(f)的瑞雷面波具有不同的穿透深度(h)，其穿透深度約為1個(gè)波長(zhǎng)(λ)。瞬態(tài)面波檢測(cè)：用重錘在地面(墊鐵板)激振，便會(huì)產(chǎn)生以振源為中心，具有豐富頻率成份并沿地表一定深度向四周傳播的瑞雷面波，通過(guò)在地面離振源一定距離(偏移距)埋設(shè)一組等間距的檢波器，經(jīng)電纜與面波儀連接接收瑞雷面波，并用面波處理專用軟件對(duì)其進(jìn)行處理分析，從而可求得測(cè)試計(jì)算(段)點(diǎn)處每一頻率(fi)對(duì)應(yīng)的平均瑞雷面波速度(Vpi)及其對(duì)應(yīng)的探測(cè)深度(hi)。經(jīng)驗(yàn)表明，一定頻率(fi)瑞雷面波的有效探測(cè)深度(hi)為其半波長(zhǎng)(λi/2)，即hi=VRi/(2fi)。激振頻率越高，其探測(cè)深度越淺；激振頻率越低，其探測(cè)深度越深。根據(jù)以上計(jì)算結(jié)果及半波長(zhǎng)計(jì)算探測(cè)深度原則，可繪制打印瑞雷面波速度(VR)與其對(duì)應(yīng)探測(cè)深度(H)的VR-H曲線。瑞雷面波波速(VR)反映了其對(duì)應(yīng)探測(cè)深度土層介質(zhì)的物理性質(zhì)，通過(guò)對(duì)探測(cè)巖土介質(zhì)進(jìn)行一系列點(diǎn)的檢測(cè)計(jì)算，可繪制成VR-H剖面曲線，根據(jù)VR層速度的相近性及VR-H剖面曲線拐點(diǎn)的連續(xù)性，可對(duì)其進(jìn)行速度分層，結(jié)合已有的地質(zhì)資料或綜合其它檢測(cè)方法可對(duì)其作出地質(zhì)解釋。
本次瑞雷面波檢測(cè)使用的儀器是北京華水物探技術(shù)研究所生產(chǎn)的SWS-1型多功能面波儀，檢波器為重慶地質(zhì)儀器廠生產(chǎn)的CDJ-Z10型垂直檢波器。其主要技術(shù)指標(biāo)如下：
(1)SWS-1型多功能面波儀
①通道數(shù)：12道或24道，可選；
②放大器：瞬時(shí)浮點(diǎn)放大器；
③前放增益：100倍(40dB)；
④動(dòng)態(tài)范圍：120dB；
⑤通頻帶：0.5～2000HZ；
⑥A/D轉(zhuǎn)換：20bit；
⑦采樣率：30μs(12道)～8ms(24道)；
⑧采集點(diǎn)數(shù)：每道512～8192個(gè)樣點(diǎn)；
⑨其它：內(nèi)置486計(jì)算機(jī)。
(2)CDJ-Z10型垂直檢波器
①固有頻率：10±0.5HZ；
②靈敏度：0.28±5％V/cm/s；
③阻尼因數(shù)：＞0.5；
④相位一致性：＜±1ms；
⑤諧波失真：＜0.2％。
瑞雷面波是沿地面表層(一定深度)傳播的表面振動(dòng)波，瑞雷面波具有頻散特性，即不同頻率(f)的瑞雷面波具有不同的穿透深度(h)，其穿透深度約為1個(gè)波長(zhǎng)(λ)。瞬態(tài)面波檢測(cè)：用重錘在地面(墊鐵板)激振，便會(huì)產(chǎn)生以振源為中心，具有豐富頻率成份并沿地表一定深度向四周傳播的瑞雷面波，通過(guò)在地面離振源一定距離(偏移距)埋設(shè)一組等間距的檢波器，經(jīng)電纜與面波儀連接接收瑞雷面波，并用面波處理專用軟件對(duì)其進(jìn)行處理分析，從而可求得測(cè)試計(jì)算(段)點(diǎn)處每一頻率(fi)對(duì)應(yīng)的平均瑞雷面波速度(Vpi)及其對(duì)應(yīng)的探測(cè)深度(hi)。經(jīng)驗(yàn)表明，一定頻率(fi)瑞雷面波的有效探測(cè)深度(hi)為其半波長(zhǎng)(λi/2)，即hi=VRi/(2fi)。激振頻率越高，其探測(cè)深度越淺；激振頻率越低，其探測(cè)深度越深。根據(jù)以上計(jì)算結(jié)果及半波長(zhǎng)計(jì)算探測(cè)深度原則，可繪制打印瑞雷面波速度(VR)與其對(duì)應(yīng)探測(cè)深度(H)的VR-H曲線。瑞雷面波波速(VR)反映了其對(duì)應(yīng)探測(cè)深度土層介質(zhì)的物理性質(zhì)，通過(guò)對(duì)探測(cè)巖土介質(zhì)進(jìn)行一系列點(diǎn)的檢測(cè)計(jì)算，可繪制成VR-H剖面曲線，根據(jù)VR層速度的相近性及VR-H剖面曲線拐點(diǎn)的連續(xù)性，可對(duì)其進(jìn)行速度分層，結(jié)合已有的地質(zhì)資料或綜合其它檢測(cè)方法可對(duì)其作出地質(zhì)解釋。
本次瑞雷面波檢測(cè)使用的儀器是北京華水物探技術(shù)研究所生產(chǎn)的SWS-1型多功能面波儀，檢波器為重慶地質(zhì)儀器廠生產(chǎn)的CDJ-Z10型垂直檢波器。其主要技術(shù)指標(biāo)如下：
(1)SWS-1型多功能面波儀
①通道數(shù)：12道或24道，可選；
②放大器：瞬時(shí)浮點(diǎn)放大器；
③前放增益：100倍(40dB)；
④動(dòng)態(tài)范圍：120dB；
⑤通頻帶：0.5～2000HZ；
⑥A/D轉(zhuǎn)換：20bit；
⑦采樣率：30μs(12道)～8ms(24道)；
⑧采集點(diǎn)數(shù)：每道512～8192個(gè)樣點(diǎn)；
⑨其它：內(nèi)置486計(jì)算機(jī)。
(2)CDJ-Z10型垂直檢波器
①固有頻率：10±0.5HZ；
②靈敏度：0.28±5％V/cm/s；
③阻尼因數(shù)：＞0.5；
④相位一致性：＜±1ms；
⑤諧波失真：＜0.2％。