2010年質(zhì)量工程師初級理論與實務(wù)每日一練（8.22）

1．描述中心位置的統(tǒng)計量包括_________。
    A．樣本方差
    B．樣本均值
    C．樣本中位數(shù)
    D．樣本標準差
    2．某元件的質(zhì)量特性X服從正態(tài)分布，即X～N(μ，σ2)USL與LSL為它的上下規(guī)范限，不合格品率P=PL+PU，其中_________。
    A．PL=φ[(LSL—μ)／σ]
    B．PL=1-φ[(LSL—μ)／σ]
    C．JPu=φ[(USL—μ)／σ]
    D．Pu=1-φ[(USL-μ)／σ]
    參考答案：1．【答案】BC
    2．【答案】AD