基于缺陷分布的質(zhì)量目標(biāo)分解和質(zhì)量預(yù)測體系

字號:

項(xiàng)目量化管理與量化質(zhì)量目標(biāo)
     CMU SEI的CMMI模型中,把一個軟件企業(yè)的軟件能力成熟度分成五個等級。分別為初始級,可重復(fù)級,已定義級,已管理級和優(yōu)化級。各成熟度等級的特征如下:
     初始級—軟件過程是無序,無章可循的,軟件項(xiàng)目的成功依賴項(xiàng)目組中的關(guān)鍵成員的個人能力,項(xiàng)目的成功是偶然和不可預(yù)見的。
     可重復(fù)級—項(xiàng)目已經(jīng)定義了最基本的項(xiàng)目管理過程,對項(xiàng)目的進(jìn)度,成本和質(zhì)量在一定程度上起到控制作用,對同類型的項(xiàng)目,一些成功的經(jīng)驗(yàn)是可以被復(fù)用和優(yōu)化到新的項(xiàng)目過程中去的。
     已定義級—軟件項(xiàng)目管理過程已經(jīng)上升為組織級別的標(biāo)準(zhǔn)過程規(guī)范。組織的項(xiàng)目過程采用或裁剪自組織標(biāo)準(zhǔn)過程。
     已管理級—軟件過程表現(xiàn)逐步穩(wěn)定,軟件過程和產(chǎn)品質(zhì)量都能有量化的衡量準(zhǔn)則,可以量化控制和預(yù)測過程和產(chǎn)品質(zhì)量。
     優(yōu)化級—在已管理級的基礎(chǔ)上,通過對過程革新,來不斷的優(yōu)化過程,從而達(dá)到持續(xù)改進(jìn)。
     那么,對于達(dá)到或者將要達(dá)到已管理級的這些公司,如何利用這些過程數(shù)據(jù)來控制和預(yù)測產(chǎn)品質(zhì)量呢?基于規(guī)模數(shù)據(jù)和缺陷數(shù)據(jù)是很多公司比較早收集的,而且相關(guān)過程也是比較早達(dá)到穩(wěn)定的,我們可以先從缺陷數(shù)據(jù)開始入手,建立初步的質(zhì)量目標(biāo)分解和質(zhì)量預(yù)測體系。
     構(gòu)建缺陷分布模型和項(xiàng)目缺陷密度性能基線
     對于達(dá)到成熟度等級四級的公司來說,基于這個成熟度等級的項(xiàng)目一般來說項(xiàng)目管理、評審、測試等子過程的過程性能比較穩(wěn)定,因此也有條件生成該過程的過程性能基線。通俗的講,我們可以把一個公司某個過程的過程性能基線看作是該公司該過程的基準(zhǔn)值。如,測試缺陷密度性能基線為[25±2] 個/千行,那么類似的項(xiàng)目的缺陷表現(xiàn)就可以參照這個數(shù)據(jù)了。
     對于構(gòu)建本模型,我們需要一個缺陷分布模型和一個缺陷密度性能基線數(shù)據(jù)。假設(shè)A公司X類項(xiàng)目的缺陷分布模型如下:
     缺陷發(fā)現(xiàn)階段缺陷比例
     1-User Requirement / System Requirement Review3%
     2-High Level Design Review4%
     3-Low Level Design Review4%
     4-Unit Test14%
     5-Code Review15%
     6-System Integration Test51%
     7-External Defects9%
     假設(shè)A公司X類項(xiàng)目的缺陷密度性能基線為M1 = [25±2] 個/千行。
     設(shè)定質(zhì)量目標(biāo)
     按照項(xiàng)目給定的范圍,進(jìn)行項(xiàng)目規(guī)模估算。假設(shè)估算的項(xiàng)目規(guī)模是Size = 20,000行,那么,根據(jù)缺陷密度性能基線數(shù)據(jù),可以推算,該項(xiàng)目預(yù)計的缺陷總數(shù)為M2 = M1*Size/1000,得出M2 = [500±40] 個。然后按照缺陷分布模型的百分比,可以把缺陷發(fā)現(xiàn)指標(biāo)分解到各個階段中,如下表:
     項(xiàng)目實(shí)施階段缺陷發(fā)現(xiàn)質(zhì)量目標(biāo) (個)
     1-User Requirement / System Requirement Review14±1
     2-High Level Design Review19±2
     3-Low Level Design Review19±2
     4-Unit Test71±6
     5-Code Review75±6
     6-System Integration Test255±20
     7-External Defects47±4
     這樣我們就得到了每個階段缺陷發(fā)現(xiàn)的目標(biāo)數(shù)和控制上下限,并作為質(zhì)量目標(biāo)固定下來了。