Control Chart控制圖：
以統(tǒng)計推斷理論為基礎(chǔ)，設(shè)置統(tǒng)計控制限，按時間坐標顯示獨立測量值、平均值或其他統(tǒng)計值的折線圖。
COPQ（Cost Of Poor Quality）不良質(zhì)量成本損失：
由于缺陷或不良質(zhì)量造成的成本損失。
CTQ（Critical to Quality）關(guān)鍵質(zhì)量特性：
滿足關(guān)鍵的顧客要求或過程要求的產(chǎn)品或過程特性。
Defect 缺陷：
不滿足CTQ規(guī)范的任何事件。
DOE（Design of Experiment） 實驗設(shè)計：
析因?qū)嶒灪拖鄳?yīng)的改進方法。
DPMO（Defect Per Million Opportunity）：
百萬缺陷機會缺陷數(shù)
ADPO（Defect Per Opportunity）：
單位機會缺陷數(shù)
DPU（Defect Per Unit）：
單位缺陷數(shù)
FMEA（Failure Mode and Effects Analysis）失效模式與影響分析：
用來分析產(chǎn)品或服務(wù)及其過程由于失效導致風險的方法。
FTY（First Time Yield）：
首次產(chǎn)出率
以統(tǒng)計推斷理論為基礎(chǔ)，設(shè)置統(tǒng)計控制限，按時間坐標顯示獨立測量值、平均值或其他統(tǒng)計值的折線圖。
COPQ（Cost Of Poor Quality）不良質(zhì)量成本損失：
由于缺陷或不良質(zhì)量造成的成本損失。
CTQ（Critical to Quality）關(guān)鍵質(zhì)量特性：
滿足關(guān)鍵的顧客要求或過程要求的產(chǎn)品或過程特性。
Defect 缺陷：
不滿足CTQ規(guī)范的任何事件。
DOE（Design of Experiment） 實驗設(shè)計：
析因?qū)嶒灪拖鄳?yīng)的改進方法。
DPMO（Defect Per Million Opportunity）：
百萬缺陷機會缺陷數(shù)
ADPO（Defect Per Opportunity）：
單位機會缺陷數(shù)
DPU（Defect Per Unit）：
單位缺陷數(shù)
FMEA（Failure Mode and Effects Analysis）失效模式與影響分析：
用來分析產(chǎn)品或服務(wù)及其過程由于失效導致風險的方法。
FTY（First Time Yield）：
首次產(chǎn)出率