Control Chart控制圖：
以統(tǒng)計(jì)推斷理論為基礎(chǔ)，設(shè)置統(tǒng)計(jì)控制限，按時(shí)間坐標(biāo)顯示獨(dú)立測(cè)量值、平均值或其他統(tǒng)計(jì)值的折線圖。
COPQ（Cost Of Poor Quality）不良質(zhì)量成本損失：
由于缺陷或不良質(zhì)量造成的成本損失。
CTQ（Critical to Quality）關(guān)鍵質(zhì)量特性：
滿足關(guān)鍵的顧客要求或過(guò)程要求的產(chǎn)品或過(guò)程特性。
Defect 缺陷：
不滿足CTQ規(guī)范的任何事件。
DOE（Design of Experiment） 實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)：
析因?qū)嶒?yàn)和相應(yīng)的改進(jìn)方法。
DPMO（Defect Per Million Opportunity）：
百萬(wàn)缺陷機(jī)會(huì)缺陷數(shù)
ADPO（Defect Per Opportunity）：
單位機(jī)會(huì)缺陷數(shù)
DPU（Defect Per Unit）：
單位缺陷數(shù)
FMEA（Failure Mode and Effects Analysis）失效模式與影響分析：
用來(lái)分析產(chǎn)品或服務(wù)及其過(guò)程由于失效導(dǎo)致風(fēng)險(xiǎn)的方法。
FTY（First Time Yield）：
首次產(chǎn)出率
以統(tǒng)計(jì)推斷理論為基礎(chǔ)，設(shè)置統(tǒng)計(jì)控制限，按時(shí)間坐標(biāo)顯示獨(dú)立測(cè)量值、平均值或其他統(tǒng)計(jì)值的折線圖。
COPQ（Cost Of Poor Quality）不良質(zhì)量成本損失：
由于缺陷或不良質(zhì)量造成的成本損失。
CTQ（Critical to Quality）關(guān)鍵質(zhì)量特性：
滿足關(guān)鍵的顧客要求或過(guò)程要求的產(chǎn)品或過(guò)程特性。
Defect 缺陷：
不滿足CTQ規(guī)范的任何事件。
DOE（Design of Experiment） 實(shí)驗(yàn)設(shè)計(jì)：
析因?qū)嶒?yàn)和相應(yīng)的改進(jìn)方法。
DPMO（Defect Per Million Opportunity）：
百萬(wàn)缺陷機(jī)會(huì)缺陷數(shù)
ADPO（Defect Per Opportunity）：
單位機(jī)會(huì)缺陷數(shù)
DPU（Defect Per Unit）：
單位缺陷數(shù)
FMEA（Failure Mode and Effects Analysis）失效模式與影響分析：
用來(lái)分析產(chǎn)品或服務(wù)及其過(guò)程由于失效導(dǎo)致風(fēng)險(xiǎn)的方法。
FTY（First Time Yield）：
首次產(chǎn)出率