三、溫度測量法（掌握）
通過溫度測量可以找出機件的缺陷并能診斷出各種由熱應力引起的故障。不僅如此，溫度測量法還可以彌補射線、超聲、渦流等無損探測法（后面有述）的不足，用來探測機件內(nèi)部的各種故障隱患。研究和應用實例表明，溫度測量法是目前故障診斷中的一項十分實用而有效的診斷方法。
（一）測溫儀表
1.接觸式測溫裝置：測溫元件與被測對象直接接觸，通過熱交換進行測溫。
（1）熱電偶。熱電偶與后續(xù)儀表配套可以直接測量出0°C～1800°C范圍內(nèi)液體、氣體內(nèi)部以及固體表面的溫度。精度高，測量范圍寬，便于遠距離和多點測量等優(yōu)點。
熱電偶是基于熱電效應進行測量的。
熱電偶的熱電動勢與熱電偶的材料、兩端溫度T、T0 有關，與熱電極長度、直徑無關。在冷端溫度T0 不變，熱電偶材料已定的情況下，其熱電動勢只是被測溫度的函數(shù)。
根據(jù)所測得的熱電動勢便可確定被測溫度值。
常用熱電偶分為標準化熱電偶和非標準化熱電偶兩類。
標準化熱電偶制造工藝比較成熟、性能優(yōu)良且穩(wěn)定，同一型號熱電偶具有互換性。常用的有廉價金屬熱電偶及貴金屬熱電偶。
非標準化熱電偶多用在一些特殊場合，雖然在使用范圍和數(shù)量上均不及標準化熱電偶，但它們的一些特別良好的性能是標準化熱電偶所不及的。
例如，鎢錸系熱電偶長期使用的溫度達2800°C，短時間使用可達3000°C；鎳鉻—金鐵熱電偶在4K溫度下也能保持大于10μV/°C的熱電勢率，是一種理想的低溫熱電偶。
【拓展】K為開爾文溫度，273.15K為零攝氏度，4K相等于零下269攝氏度。如果從分子運動論的觀點出發(fā)，理想氣體分子的平均動能由溫度確定，即溫度越高分子就運動得越快，達到-273.15℃的時候分子運動已經(jīng)完全停止了，所以此時為極限溫度）
實際使用的熱電偶通常分為普通熱電偶、鎧裝熱電偶和薄膜熱電偶等。普通熱電偶的結(jié)構(gòu)外形有多種形式，但其基本結(jié)構(gòu)均由保護套管、熱電極、絕緣套管和接線盒等主要部分組成。
鎧裝熱電偶是由熱電極、絕緣材料和金屬保護套管等組合成一體的特殊結(jié)構(gòu)熱電電偶，可以做得很細，很長，能夠彎曲。
薄膜熱電偶是由兩種金屬薄膜采用真空蒸鍍、化學涂層或電泳等方法連接在一起的一種特殊結(jié)構(gòu)的熱電偶。
2.熱電阻溫度計：熱電阻溫度計利用材料的電阻率隨溫度變化而變化的特性，與電橋相配合，將溫度按一定函數(shù)關系轉(zhuǎn)換為電量。
按敏感材料的不同，有金屬熱電阻溫度計和半導體熱電阻溫度計兩種。常用的金屬熱電阻有鉑熱電阻、銅熱電阻、鎳熱電阻等。其結(jié)構(gòu)有普通型熱電阻和鎧裝熱電阻。
工業(yè)用普通型熱電阻的外型結(jié)構(gòu)與普通型熱電偶的外形結(jié)構(gòu)基本相同。熱電阻體由引出線、熱電阻絲、骨架、保護云母片和綁帶組成。鎧裝熱電阻的主要特點是體積?。ㄖ睆絻H為1～8mm），響應速度快，耐振抗沖擊，感溫元件、連接導線及保護套管全封閉并連成一體，使用壽命長。
半導體熱電阻材料是將各種氧化物（如錳、鎳、銅和鐵的氧化物）按一定比例混合壓制而成。半導體熱電阻的溫度測量范圍在-100°C～300°C之間。其主要特點是電阻溫度系數(shù)大（比金屬熱電阻高10～100倍），電阻率高，感溫元件可做得很小，可根據(jù)需要做成片狀、棒狀和珠狀（珠狀外型尺寸可小到3mm），可測空隙、腔體、內(nèi)孔等處的溫度。但其性能不夠穩(wěn)定，互換性差，使其應用受到一定限制。
3.紅外測溫儀器
紅外測溫儀器是利用紅外輻射原理，采用非接觸方式，對被測物體表面進行觀測，并能記錄其溫度變化的設備。
核心是紅外探測器，它能把紅外輻射能轉(zhuǎn)變?yōu)殡娔堋?BR> 按對輻射響應方式的不同，將紅外探測器分為光電探測器和熱敏探測器兩大類。
表9-5 光電、熱敏探測器性能比較
靈敏度
響應速度
制冷
使用方便
其他
光電探測器
高
快
需要
不太方便
靈敏度隨波長變化
熱敏探測器
低
慢
不需要
方便
耐用、價低、對波長響應變化微弱
紅外測溫儀器的組成有：（1）紅外探測器；（2）紅外光學系統(tǒng)：用于匯聚被測對象的輻射，并將其傳輸?shù)郊t外探測器上；（3） 信號處理系統(tǒng)：用以將電信號放大、處理成可記錄的信號。（4）顯示系統(tǒng)：是最終將被測信號以表針指示、數(shù)字顯示或圖像等不同方式記錄、存儲下來的裝置。
常用的紅外測溫儀器有：
（1）紅外測溫儀：是紅外測溫儀器中最簡單的一種。品種多、用途廣泛、價格低廉，用于測量物體“點”的溫度。
表9-6 常用紅外測溫儀
名稱
應用范圍
特點
簡易輻射測溫儀
測2000C- 6000C以上及輻射率高的物體
結(jié)構(gòu)簡單、價廉、抗震、精度較差
輻射測溫儀
適宜室溫下測溫，一般測測2000C以下溫度
結(jié)構(gòu)簡單、價格較低、較抗振、精度受環(huán)境影響，探測器熱敏度電阻互換性差，與二次儀表匹配難，靈敏較低，誤差較大
有溫度補償?shù)妮椛錅y溫儀
應用廣泛
測量精度高，結(jié)構(gòu)較復雜
亮度測溫儀
宜測輻射率高的物體溫度、測溫結(jié)果低于真實溫度
不需溫度補償，結(jié)構(gòu)比較簡單，靈敏度稍差
比色測溫儀
測輻射率的物體，宜測中高溫測2000C－測35000C
結(jié)構(gòu)較復雜，測量誤差小，靈敏度較高，受煙霧、灰塵影響小
單色測溫儀
宜測高溫測6000C－30000C
結(jié)構(gòu)簡單、使用方便、靈敏度高，能抑制某些干擾，波長越短輻射率引起的誤差越少，測量精度較高。
（2）紅外熱像儀。它能把被測物體發(fā)出的紅外輻射轉(zhuǎn)換成可見圖像，這種圖像稱為熱像圖或溫度圖。這種測溫方法簡便、直觀、精確、有效，且不受測溫對象的限制，因此，在溫度測量中得到比較廣泛的應用，并有著寬廣的應用前景。
現(xiàn)有的熱成像系統(tǒng)主要分兩類：一類是光機掃描成像系統(tǒng)，稱為紅外熱像儀；另一類是熱釋電紅外攝像管成像系統(tǒng)，稱為紅外熱電視?！ ?BR> （二）通過測溫測量所能發(fā)現(xiàn)的常見故障
軸承損壞、流體系統(tǒng)故障、發(fā)熱異常、污染物質(zhì)積聚、保溫材料損壞、電器元件故障、非金屬部件的故障、機件內(nèi)部缺陷、裂紋探測等。
【例題·單選題】（2007）與金屬熱電阻溫度計相比，半導體熱電阻溫度計（?。┑恼f法是錯誤的。
A.電阻溫度系數(shù)大
B.電阻率高
C.性能穩(wěn)定
D.互換性差
『正確答案』C
『答案解析』半導體熱電阻溫度系數(shù)大、電阻率高、感溫元件可做的很小，可根據(jù)需要制作成不同形狀，可測空隙、腔體、內(nèi)孔等處的溫度，缺點是性能不夠穩(wěn)定，互換性差，使其應用受到一定的限制。
【例題·單選題】（2008）下列溫度計中，（ ）屬于非接觸溫度計。
A.膨脹式溫度計
B.壓力式溫度計
C.比色高溫計
D.半導體熱敏電阻溫度計
『正確答案』C
『答案解析』非接觸式溫度計包括輻射高溫計、光學高溫計、比色高溫計和紅外測溫儀。
四、裂紋的無損探傷法（掌握）
對設備零部件裂紋的檢查，主要采用無損探測法。
利用無損探測技術不僅能發(fā)現(xiàn)機件的裂紋，以及腐蝕、機械性能超差等變化，而且還可以根據(jù)機件損傷的種類、形狀、大小、產(chǎn)生部位、應力水平、應力方向等信息預測損傷或缺陷發(fā)展的趨勢，以便及時采取措施，排除隱患。
有多種無損探測法供選用，如目視——光學檢測法、滲透探測法、磁粉探測法、射線探測法、超聲波探測法、聲發(fā)射探測法、渦流探測法等。
（一）目視——光學檢測法
對于封閉結(jié)構(gòu)內(nèi)部不能直接觀察的零件，主要使用工業(yè)內(nèi)窺鏡進行目視——光學檢測。
（二）滲透探測法
使著色滲透液或熒光滲透液滲入機件表面開口的裂紋內(nèi)，然后清除表面的殘液，用吸附劑吸出裂紋內(nèi)的滲透液，從而顯示出缺陷圖像的一種檢驗方法。
（三）磁粉探測法
根據(jù)探測漏磁場方式的不同，可將磁性探測法分為磁粉探測法、探測線圈法、磁場測定法和磁帶記錄法。
磁粉探測法所用設備簡單，操作方便，檢測靈敏度較高，適用于各種形狀的鋼鐵機件，這種探測法可以發(fā)現(xiàn)鐵磁材料表面和近表面的裂紋，以及氣孔、夾雜等缺陷。其缺點是這種探測法不能探測缺陷的深度。
（四）射線探測法：χ射線和γ射線。
主要用來探測機件內(nèi)部的氣孔、夾渣、鑄造孔洞等立體缺陷，當裂紋方向與射線平行時也能被探測出來。
優(yōu)點是探測的圖像較直觀，對缺陷尺寸和性質(zhì)的判斷比較容易，而且探測結(jié)果可以記錄下來作為診斷檔案資料長期保存。缺點是，當裂紋面與射線近于垂直時就難以探測出來，對微小裂紋的探測靈敏度低，探測費用較高，射線對人體有害。
（五）超聲波探測法。
可以探測垂直于超聲波的金屬和非金屬材料的平面狀缺陷。
優(yōu)點是可探測的厚度大、檢測靈敏度高、儀器輕便便于攜帶、成本低，可實現(xiàn)自動檢測，并且超聲波對人體無害。其缺點是探測時有一定的近場盲區(qū)、探測結(jié)果不能記錄、探測中采用的耦合劑易污染產(chǎn)品等。
（六）聲發(fā)射探測法。
基本原理是物體在外部條件（如力、熱、電、磁等）作用下會發(fā)聲，根據(jù)物體的發(fā)聲推斷物體的狀態(tài)或內(nèi)部結(jié)構(gòu)的變化。 動態(tài)檢測、在加載或運行狀態(tài)下進行；裂紋主動參與，提供裂紋活動的信息；靈敏度高、覆蓋面大、不會漏檢；但是，不能反應靜態(tài)缺陷情況。
（七）渦流探測法。
機件中存在損傷時，被監(jiān)測機件表面的渦流將發(fā)生改變，相應的渦流磁場也將改變。
適用于導電材料表面或近表面探傷；靈敏度高，可自動顯示報警；非接觸式，可用于高溫測量；可用于顯示、記錄和報警，并可估算缺陷的位置和大小。
不足：深層缺陷難以探測、影響因素多、存在邊角效應?！ ?BR> 五、磨損的油液污染檢測法（掌握）
根據(jù)監(jiān)測和分析油液中污染物的元素成分、數(shù)量、尺寸、形態(tài)等物理化學性質(zhì)的變化，便可以判斷是否發(fā)生了磨損及磨損程度。
（一）油液光譜分析法：利用原子發(fā)射光譜或原子吸收光譜分析油液中金屬磨損產(chǎn)物的化學成分和含量，從而判斷機件磨損的部位和磨損嚴重程度的一種污染診斷法。光譜分析法對分析油液中有色金屬磨損產(chǎn)物比較適用。用于早期、精密的磨損診斷。
（二）油液鐵譜分析法：從油樣中將微粒分離出來，并按照微粒的大小排列在基片上，通過光學或電子顯微鏡讀出大小微粒的相對濃度，并對微粒的物理性能做出進一步分析。油液鐵譜分析能提供磨損產(chǎn)物的數(shù)量、粒度、形態(tài)和成分四種參數(shù)，通過研究即可掌握有關的磨損情況。
（三）磁塞檢查法：用肉眼直接觀察，用于檢查磨損后期磨粒尺寸大于70μm的情況的情況。
【例題·單選題】（2007）下列機件磨損油污檢測法所用的裝置中，（ ）更適于早期的、精密的磨損診斷。
A.鐵潛分析儀
B.光譜分析儀
C.直讀式鐵譜儀
D.磁性塞頭
『正確答案』B
『答案解析』光譜分析儀分析磨削粒度一般能在小于10微米進行取樣，但不能給出磨損顆粒的尺寸、形狀，因此適用于早期精密的磨損診斷。
通過溫度測量可以找出機件的缺陷并能診斷出各種由熱應力引起的故障。不僅如此，溫度測量法還可以彌補射線、超聲、渦流等無損探測法（后面有述）的不足，用來探測機件內(nèi)部的各種故障隱患。研究和應用實例表明，溫度測量法是目前故障診斷中的一項十分實用而有效的診斷方法。
（一）測溫儀表
1.接觸式測溫裝置：測溫元件與被測對象直接接觸，通過熱交換進行測溫。
（1）熱電偶。熱電偶與后續(xù)儀表配套可以直接測量出0°C～1800°C范圍內(nèi)液體、氣體內(nèi)部以及固體表面的溫度。精度高，測量范圍寬，便于遠距離和多點測量等優(yōu)點。
熱電偶是基于熱電效應進行測量的。
熱電偶的熱電動勢與熱電偶的材料、兩端溫度T、T0 有關，與熱電極長度、直徑無關。在冷端溫度T0 不變，熱電偶材料已定的情況下，其熱電動勢只是被測溫度的函數(shù)。
根據(jù)所測得的熱電動勢便可確定被測溫度值。
常用熱電偶分為標準化熱電偶和非標準化熱電偶兩類。
標準化熱電偶制造工藝比較成熟、性能優(yōu)良且穩(wěn)定，同一型號熱電偶具有互換性。常用的有廉價金屬熱電偶及貴金屬熱電偶。
非標準化熱電偶多用在一些特殊場合，雖然在使用范圍和數(shù)量上均不及標準化熱電偶，但它們的一些特別良好的性能是標準化熱電偶所不及的。
例如，鎢錸系熱電偶長期使用的溫度達2800°C，短時間使用可達3000°C；鎳鉻—金鐵熱電偶在4K溫度下也能保持大于10μV/°C的熱電勢率，是一種理想的低溫熱電偶。
【拓展】K為開爾文溫度，273.15K為零攝氏度，4K相等于零下269攝氏度。如果從分子運動論的觀點出發(fā)，理想氣體分子的平均動能由溫度確定，即溫度越高分子就運動得越快，達到-273.15℃的時候分子運動已經(jīng)完全停止了，所以此時為極限溫度）
實際使用的熱電偶通常分為普通熱電偶、鎧裝熱電偶和薄膜熱電偶等。普通熱電偶的結(jié)構(gòu)外形有多種形式，但其基本結(jié)構(gòu)均由保護套管、熱電極、絕緣套管和接線盒等主要部分組成。
鎧裝熱電偶是由熱電極、絕緣材料和金屬保護套管等組合成一體的特殊結(jié)構(gòu)熱電電偶，可以做得很細，很長，能夠彎曲。
薄膜熱電偶是由兩種金屬薄膜采用真空蒸鍍、化學涂層或電泳等方法連接在一起的一種特殊結(jié)構(gòu)的熱電偶。
2.熱電阻溫度計：熱電阻溫度計利用材料的電阻率隨溫度變化而變化的特性，與電橋相配合，將溫度按一定函數(shù)關系轉(zhuǎn)換為電量。
按敏感材料的不同，有金屬熱電阻溫度計和半導體熱電阻溫度計兩種。常用的金屬熱電阻有鉑熱電阻、銅熱電阻、鎳熱電阻等。其結(jié)構(gòu)有普通型熱電阻和鎧裝熱電阻。
工業(yè)用普通型熱電阻的外型結(jié)構(gòu)與普通型熱電偶的外形結(jié)構(gòu)基本相同。熱電阻體由引出線、熱電阻絲、骨架、保護云母片和綁帶組成。鎧裝熱電阻的主要特點是體積?。ㄖ睆絻H為1～8mm），響應速度快，耐振抗沖擊，感溫元件、連接導線及保護套管全封閉并連成一體，使用壽命長。
半導體熱電阻材料是將各種氧化物（如錳、鎳、銅和鐵的氧化物）按一定比例混合壓制而成。半導體熱電阻的溫度測量范圍在-100°C～300°C之間。其主要特點是電阻溫度系數(shù)大（比金屬熱電阻高10～100倍），電阻率高，感溫元件可做得很小，可根據(jù)需要做成片狀、棒狀和珠狀（珠狀外型尺寸可小到3mm），可測空隙、腔體、內(nèi)孔等處的溫度。但其性能不夠穩(wěn)定，互換性差，使其應用受到一定限制。
3.紅外測溫儀器
紅外測溫儀器是利用紅外輻射原理，采用非接觸方式，對被測物體表面進行觀測，并能記錄其溫度變化的設備。
核心是紅外探測器，它能把紅外輻射能轉(zhuǎn)變?yōu)殡娔堋?BR> 按對輻射響應方式的不同，將紅外探測器分為光電探測器和熱敏探測器兩大類。
表9-5 光電、熱敏探測器性能比較
靈敏度
響應速度
制冷
使用方便
其他
光電探測器
高
快
需要
不太方便
靈敏度隨波長變化
熱敏探測器
低
慢
不需要
方便
耐用、價低、對波長響應變化微弱
紅外測溫儀器的組成有：（1）紅外探測器；（2）紅外光學系統(tǒng)：用于匯聚被測對象的輻射，并將其傳輸?shù)郊t外探測器上；（3） 信號處理系統(tǒng)：用以將電信號放大、處理成可記錄的信號。（4）顯示系統(tǒng)：是最終將被測信號以表針指示、數(shù)字顯示或圖像等不同方式記錄、存儲下來的裝置。
常用的紅外測溫儀器有：
（1）紅外測溫儀：是紅外測溫儀器中最簡單的一種。品種多、用途廣泛、價格低廉，用于測量物體“點”的溫度。
表9-6 常用紅外測溫儀
名稱
應用范圍
特點
簡易輻射測溫儀
測2000C- 6000C以上及輻射率高的物體
結(jié)構(gòu)簡單、價廉、抗震、精度較差
輻射測溫儀
適宜室溫下測溫，一般測測2000C以下溫度
結(jié)構(gòu)簡單、價格較低、較抗振、精度受環(huán)境影響，探測器熱敏度電阻互換性差，與二次儀表匹配難，靈敏較低，誤差較大
有溫度補償?shù)妮椛錅y溫儀
應用廣泛
測量精度高，結(jié)構(gòu)較復雜
亮度測溫儀
宜測輻射率高的物體溫度、測溫結(jié)果低于真實溫度
不需溫度補償，結(jié)構(gòu)比較簡單，靈敏度稍差
比色測溫儀
測輻射率的物體，宜測中高溫測2000C－測35000C
結(jié)構(gòu)較復雜，測量誤差小，靈敏度較高，受煙霧、灰塵影響小
單色測溫儀
宜測高溫測6000C－30000C
結(jié)構(gòu)簡單、使用方便、靈敏度高，能抑制某些干擾，波長越短輻射率引起的誤差越少，測量精度較高。
（2）紅外熱像儀。它能把被測物體發(fā)出的紅外輻射轉(zhuǎn)換成可見圖像，這種圖像稱為熱像圖或溫度圖。這種測溫方法簡便、直觀、精確、有效，且不受測溫對象的限制，因此，在溫度測量中得到比較廣泛的應用，并有著寬廣的應用前景。
現(xiàn)有的熱成像系統(tǒng)主要分兩類：一類是光機掃描成像系統(tǒng)，稱為紅外熱像儀；另一類是熱釋電紅外攝像管成像系統(tǒng)，稱為紅外熱電視?！ ?BR> （二）通過測溫測量所能發(fā)現(xiàn)的常見故障
軸承損壞、流體系統(tǒng)故障、發(fā)熱異常、污染物質(zhì)積聚、保溫材料損壞、電器元件故障、非金屬部件的故障、機件內(nèi)部缺陷、裂紋探測等。
【例題·單選題】（2007）與金屬熱電阻溫度計相比，半導體熱電阻溫度計（?。┑恼f法是錯誤的。
A.電阻溫度系數(shù)大
B.電阻率高
C.性能穩(wěn)定
D.互換性差
『正確答案』C
『答案解析』半導體熱電阻溫度系數(shù)大、電阻率高、感溫元件可做的很小，可根據(jù)需要制作成不同形狀，可測空隙、腔體、內(nèi)孔等處的溫度，缺點是性能不夠穩(wěn)定，互換性差，使其應用受到一定的限制。
【例題·單選題】（2008）下列溫度計中，（ ）屬于非接觸溫度計。
A.膨脹式溫度計
B.壓力式溫度計
C.比色高溫計
D.半導體熱敏電阻溫度計
『正確答案』C
『答案解析』非接觸式溫度計包括輻射高溫計、光學高溫計、比色高溫計和紅外測溫儀。
四、裂紋的無損探傷法（掌握）
對設備零部件裂紋的檢查，主要采用無損探測法。
利用無損探測技術不僅能發(fā)現(xiàn)機件的裂紋，以及腐蝕、機械性能超差等變化，而且還可以根據(jù)機件損傷的種類、形狀、大小、產(chǎn)生部位、應力水平、應力方向等信息預測損傷或缺陷發(fā)展的趨勢，以便及時采取措施，排除隱患。
有多種無損探測法供選用，如目視——光學檢測法、滲透探測法、磁粉探測法、射線探測法、超聲波探測法、聲發(fā)射探測法、渦流探測法等。
（一）目視——光學檢測法
對于封閉結(jié)構(gòu)內(nèi)部不能直接觀察的零件，主要使用工業(yè)內(nèi)窺鏡進行目視——光學檢測。
（二）滲透探測法
使著色滲透液或熒光滲透液滲入機件表面開口的裂紋內(nèi)，然后清除表面的殘液，用吸附劑吸出裂紋內(nèi)的滲透液，從而顯示出缺陷圖像的一種檢驗方法。
（三）磁粉探測法
根據(jù)探測漏磁場方式的不同，可將磁性探測法分為磁粉探測法、探測線圈法、磁場測定法和磁帶記錄法。
磁粉探測法所用設備簡單，操作方便，檢測靈敏度較高，適用于各種形狀的鋼鐵機件，這種探測法可以發(fā)現(xiàn)鐵磁材料表面和近表面的裂紋，以及氣孔、夾雜等缺陷。其缺點是這種探測法不能探測缺陷的深度。
（四）射線探測法：χ射線和γ射線。
主要用來探測機件內(nèi)部的氣孔、夾渣、鑄造孔洞等立體缺陷，當裂紋方向與射線平行時也能被探測出來。
優(yōu)點是探測的圖像較直觀，對缺陷尺寸和性質(zhì)的判斷比較容易，而且探測結(jié)果可以記錄下來作為診斷檔案資料長期保存。缺點是，當裂紋面與射線近于垂直時就難以探測出來，對微小裂紋的探測靈敏度低，探測費用較高，射線對人體有害。
（五）超聲波探測法。
可以探測垂直于超聲波的金屬和非金屬材料的平面狀缺陷。
優(yōu)點是可探測的厚度大、檢測靈敏度高、儀器輕便便于攜帶、成本低，可實現(xiàn)自動檢測，并且超聲波對人體無害。其缺點是探測時有一定的近場盲區(qū)、探測結(jié)果不能記錄、探測中采用的耦合劑易污染產(chǎn)品等。
（六）聲發(fā)射探測法。
基本原理是物體在外部條件（如力、熱、電、磁等）作用下會發(fā)聲，根據(jù)物體的發(fā)聲推斷物體的狀態(tài)或內(nèi)部結(jié)構(gòu)的變化。 動態(tài)檢測、在加載或運行狀態(tài)下進行；裂紋主動參與，提供裂紋活動的信息；靈敏度高、覆蓋面大、不會漏檢；但是，不能反應靜態(tài)缺陷情況。
（七）渦流探測法。
機件中存在損傷時，被監(jiān)測機件表面的渦流將發(fā)生改變，相應的渦流磁場也將改變。
適用于導電材料表面或近表面探傷；靈敏度高，可自動顯示報警；非接觸式，可用于高溫測量；可用于顯示、記錄和報警，并可估算缺陷的位置和大小。
不足：深層缺陷難以探測、影響因素多、存在邊角效應?！ ?BR> 五、磨損的油液污染檢測法（掌握）
根據(jù)監(jiān)測和分析油液中污染物的元素成分、數(shù)量、尺寸、形態(tài)等物理化學性質(zhì)的變化，便可以判斷是否發(fā)生了磨損及磨損程度。
（一）油液光譜分析法：利用原子發(fā)射光譜或原子吸收光譜分析油液中金屬磨損產(chǎn)物的化學成分和含量，從而判斷機件磨損的部位和磨損嚴重程度的一種污染診斷法。光譜分析法對分析油液中有色金屬磨損產(chǎn)物比較適用。用于早期、精密的磨損診斷。
（二）油液鐵譜分析法：從油樣中將微粒分離出來，并按照微粒的大小排列在基片上，通過光學或電子顯微鏡讀出大小微粒的相對濃度，并對微粒的物理性能做出進一步分析。油液鐵譜分析能提供磨損產(chǎn)物的數(shù)量、粒度、形態(tài)和成分四種參數(shù)，通過研究即可掌握有關的磨損情況。
（三）磁塞檢查法：用肉眼直接觀察，用于檢查磨損后期磨粒尺寸大于70μm的情況的情況。
【例題·單選題】（2007）下列機件磨損油污檢測法所用的裝置中，（ ）更適于早期的、精密的磨損診斷。
A.鐵潛分析儀
B.光譜分析儀
C.直讀式鐵譜儀
D.磁性塞頭
『正確答案』B
『答案解析』光譜分析儀分析磨削粒度一般能在小于10微米進行取樣，但不能給出磨損顆粒的尺寸、形狀，因此適用于早期精密的磨損診斷。