多項(xiàng)選擇題：
◎下列關(guān)于裂紋的無損探測(cè)法正確的有（ ）。
A.磁粉探測(cè)法不能探測(cè)缺陷的深度
B.滲透探測(cè)法不能檢測(cè)機(jī)件的內(nèi)部缺陷，對(duì)機(jī)件的表面粗糙度有一定要求，試劑對(duì)環(huán)境有一定污染
C.射線探測(cè)法的缺點(diǎn)是當(dāng)裂紋面與射線近于垂直時(shí)難于探測(cè)出來，對(duì)微小裂紋的探測(cè)靈敏度低，探測(cè)費(fèi)用較高，射線對(duì)人體有害，必須有防護(hù)措施
D.超聲波探測(cè)法的缺點(diǎn)是探測(cè)時(shí)有一定的近盲區(qū)，探測(cè)結(jié)果不能記錄，探測(cè)中采用的耦合劑易污染產(chǎn)品，此外超聲波探測(cè)還需要使用成套的標(biāo)準(zhǔn)試塊和對(duì)比試塊調(diào)整儀器本身的性能和靈敏度
E.目測(cè)——光學(xué)檢測(cè)法的缺點(diǎn)是不能發(fā)現(xiàn)封閉結(jié)構(gòu)內(nèi)部的零件的裂紋
◎下列關(guān)于裂紋的無損探測(cè)法正確的有（ ）。
A.磁粉探測(cè)法不能探測(cè)缺陷的深度
B.滲透探測(cè)法不能檢測(cè)機(jī)件的內(nèi)部缺陷，對(duì)機(jī)件的表面粗糙度有一定要求，試劑對(duì)環(huán)境有一定污染
C.射線探測(cè)法的缺點(diǎn)是當(dāng)裂紋面與射線近于垂直時(shí)難于探測(cè)出來，對(duì)微小裂紋的探測(cè)靈敏度低，探測(cè)費(fèi)用較高，射線對(duì)人體有害，必須有防護(hù)措施
D.超聲波探測(cè)法的缺點(diǎn)是探測(cè)時(shí)有一定的近盲區(qū)，探測(cè)結(jié)果不能記錄，探測(cè)中采用的耦合劑易污染產(chǎn)品，此外超聲波探測(cè)還需要使用成套的標(biāo)準(zhǔn)試塊和對(duì)比試塊調(diào)整儀器本身的性能和靈敏度
E.目測(cè)——光學(xué)檢測(cè)法的缺點(diǎn)是不能發(fā)現(xiàn)封閉結(jié)構(gòu)內(nèi)部的零件的裂紋